美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀

簡要描述：

美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀本產品適用于額定電壓 35kV 電纜的介損電橋診斷測試.現在熱賣中，如需購買，可通過ai1718的客服熱線聯(lián)系我們!

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美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀的詳細資料：

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美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀簡介：

TD-65E 介損電橋設計用于通過 XBee 協(xié)議與 VLF-34E 或 VLF-65E 進行無線通信并協(xié)同工作，以形成一個完整的電纜診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)具備*端功能，如無線通信、數據采集，并且可使用隨附的 E-Link PC 軟件生成報告。它旨在按照世界標準（IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等），對 5 至 35kV 的一次電纜進行介損（Tan Delta，也稱為 Tan δ、損耗因數或損耗角）測試。介損測試是一種非破壞性診斷測試，用于測量屏蔽中壓 / 高壓電纜絕緣的劣化程度。測試結果能夠揭示絕緣層的污染、損壞情況或水樹分布狀況。介損測試是在停電電纜上進行的離線測試，使用交流電源，在本案例中是使用非常低頻（0.1Hz）的高壓發(fā)生器為電纜提供測試電壓，同時介損電橋記錄測試結果。測試過程中會逐步升高測試電壓，并監(jiān)測讀數，以避免在介損數值表明電纜嚴重劣化時可能出現的電纜故障。

技術參數：

型號

TD-65E


輸入	需要兩節(jié)堿性 “D" 型電池 —— 也可使用四節(jié)可充電 “D" 型電池（不含）
測量范圍	電壓：1 - 65kVp（46kVrms），精度 ±1%，分辨率 0.1kV 電流：0 - 150mAp（106mArms），精度 ±1%，分辨率 1μA 介質損耗角正切：0.1Hz - 0.01Hz，5nF - 10μF，精度 1.0×10??，分辨率 1.0×10??
PC 接口	XBee 802.15.4（無線，約 30 英尺傳輸距離）
PC 軟件	E-Link 遠程控制和報告生成軟件
互連電纜	88-5061 - 用于 VLF-34E 的 20 英尺 / 6.1 米輸出電纜 81-5220 - 用于 VLF-65E（序列號 1000 - 1285 ）的 20 英尺 / 6.1 米輸出電纜 88-514 - 用于 VLF-65E（序列號 1286 及更高）的 20 英尺 / 6.1 米輸出電纜
隨附電纜	10 英尺 / 3 米帶紅色香蕉插頭的 TD 輸出引線、20 英尺 / 6.1 米黃綠測試引線、2 英寸 / 51 毫米 ×5 英寸 / 127 毫米環(huán)形線圈、帶香蕉插座的 1.5 英寸 / 38 毫米鋁球
尺寸	TD 傳感器（帶三腳架）：7 英寸 / 152 毫米 ×8 英寸 / 203 毫米 ×18 英寸 / 457 毫米 TD 攜帶箱：22.5 英寸 / 572 毫米 ×15 英寸 / 381 毫米 ×11.75 英寸 / 298 毫米
重量	TD 傳感器（帶三腳架）：7 磅 / 3.2 千克 TD（含攜帶箱和配件袋）：40 磅 / 18.14 千克

美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀

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美國HVI美高測 TD-65E超低頻耐壓測試儀

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